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 Variability aware transistor stack based regression surrogate models for accurate and efficient statistical leakage estimation 用于准确有效统计泄漏估计的基于可变性感知晶体管堆叠的回归代理模型
相关领域
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期刊：Microelectronics Journal 作者：Lokesh Garg 出版日期：2017-09-30 |
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