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 Influences of Adjacent High Voltage on the Characteristics and Reliability of SOI Power Devices for Automotive Application 相邻高压对车用SOI功率器件特性和可靠性的影响
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ran Ye; Jiaojing Bian; Hao Luo; Qiao Kang; Siyang Liu; et al 出版日期：2024-12-27 |
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