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 SMD Defect Classification by Convolution Neural Network and PCB Image Transform 基于卷积神经网络和PCB图像变换的贴片缺陷分类
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期刊： 作者：Young-Gyu Kim; Dae-Ui Lim; Jonghyun Ryu; Tae-Hyoung Park 出版日期：2018-10-01 |
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