标题 |
Thickness dependent dielectric strength of a low-permittivity dielectric film
低介电常数介电膜的厚度相关介电强度
相关领域
材料科学
电介质
复合材料
介电强度
介电常数
扫描电子显微镜
相对介电常数
模数
杨氏模量
光电子学
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DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 作者:H.K. Kim; F.G. Shi 出版日期:2001-04-01 |
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