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ON-state reliability of GaN-on-Si Schottky Barrier Diodes: Si3N4 vs. Al2O3/SiO2 GET dielectric
GaN-on-Si肖特基势垒二极管的导通态可靠性:Si3N4与Al2O3/SiO2 GET电介质
相关领域
电介质
二极管
材料科学
可靠性(半导体)
堆栈(抽象数据类型)
肖特基二极管
光电子学
肖特基势垒
物理
计算机科学
量子力学
功率(物理)
程序设计语言
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期刊: 作者:Eliana Acurio; Lionel Trojman; Brice De Jaeger; Benoit Bakeroot; Stefaan Decoutere 出版日期:2021-03-01 |
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