标题 |
Characterization of Nitride Thin Films by Electron Backscatter Diffraction and Electron Channeling Contrast Imaging
用电子背散射衍射和电子沟道衬度成像表征氮化物薄膜
相关领域
电子背散射衍射
材料科学
外延
倾斜(摄像机)
薄膜
光学
电子衍射
方向错误
表征(材料科学)
电子显微镜
电子
衍射
光电子学
微观结构
纳米技术
晶界
物理
图层(电子)
几何学
复合材料
量子力学
数学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:MRS Proceedings 作者:C. Trager‐Cowan; F. Sweeney; A.J. Wilkinson; Patrick Trimby; A. P. Day; et al 出版日期:2005-12-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|