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 Research on the influence of illumination on the leakage current of silicon drift detectors 照度对硅漂移探测器漏电流影响的研究
相关领域
硅
探测器
泄漏（经济）
光电子学
电流（流体）
材料科学
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期刊： 作者：Yujia Peng; Huixiang Huang; Rongrong Guo 出版日期：2024-09-30 |
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