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Morphotropic Phase Boundary of Hf1–xZrxO2 Thin Films for Dynamic Random Access Memories
动态随机存储器用Hf1-xZrxO2薄膜的形变相界
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Min Hyuk Park; Young Hwan Lee; Han Joon Kim; Yu Jin Kim; Taehwan Moon; et al 出版日期:2018-11-23 |
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