标题 |
Modeling and characterization of a cantilever-based near-field scanning microwave impedance microscope
基于悬臂的近场扫描微波阻抗显微镜的建模与表征
相关领域
悬臂梁
材料科学
微波食品加热
薄脆饼
表征(材料科学)
光电子学
电阻抗
电容
扫描探针显微镜
输电线路
显微镜
放大器
光学
声学
电极
电气工程
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物理
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期刊:Review of Scientific Instruments 作者:Keji Lai; Worasom Kundhikanjana; Michael A. Kelly; Zhi‐Xun Shen 出版日期:2008-06-01 |
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