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 Reply to: Safe practices for mobility evaluation in field-effect transistors and Hall effect measurements using emerging materials 回复：使用新兴材料进行场效应晶体管迁移率评估和霍尔效应测量的安全实践
相关领域
霍尔效应
场效应晶体管
领域（数学）
工程物理
晶体管
材料科学
光电子学
电气工程
物理
工程类
数学
电阻率和电导率
电压
纯数学
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期刊：Nature electronics. 作者：Guoxia Liu; Huihui Zhu; Yong‐Young Noh 出版日期：2024-04-17 |
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