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 Measurement of Radiation Damage on a Back-illuminated Silicon PIN Photodiode Caused by a 35 MeV Proton Beam 35MeV质子束对背照硅PIN光电二极管辐射损伤的测量
相关领域
光电二极管
质子
硅
梁（结构）
辐射损伤
辐射
材料科学
光学
光电子学
物理
核物理学
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| 其它 |
期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Jae Beom Bae; Hyo Jung Hyun; D. H. Kah; Hyun Ok Kim; H. Park; et al 出版日期：2011-08-05 |
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