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 Lifetime Modeling of SiC MOSFET Power Modules During Power Cycling Tests at Low Temperature Swings 低温振荡功率循环试验中SiC MOSFET功率模块的寿命建模
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期刊： 作者：Felix Hoffmann; S. Schmitt; Nando Kaminski 出版日期：2023-05-28 |
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