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Effect of Intrinsic and Extrinsic Defects on the Structural, Thermal, and Electrical Properties in p-Type CZ-Si Wafers with Different Carrier Concentrations
本征和非本征缺陷对不同载流子浓度p型CZ-Si晶片结构、热和电学性质的影响
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期刊:International Journal of Thermophysics 作者:Harol D. Martinez‐Hernandez; Porfirio E. Martinez-Muñoz; Cristian Felipe Ramirez-Gutierrez; Eduardo U. Martinez-Ascencio; Beatriz M. Millán‐Malo; et al 出版日期:2022-10-13 |
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