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 Determination of the excess noise of avalanche photodiodes integrated in 0.35-μm CMOS technologies 0.35 μ m CMOS技术中集成雪崩光电二极管过量噪声的测定
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期刊：Optical Engineering 作者：Tomislav Jukić; Paul Brandl; Horst Zimmermann 出版日期：2018-04-10 |
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