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![]() Gd掺杂剂对电阻开关用射频共溅射HfO2薄膜电学性能的影响
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期刊:Materials Science and Engineering B 作者:K. C. Das; Sandip Ghosh; N. Tripathy; D. Pradhan; Rahul Singhal; et al 出版日期:2020-12-21 |
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gy79210
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