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 A High-precision Delay Locked Loop with Current Mismatch Calibration in 40nm CMOS 40nm CMOS中具有电流失配校准的高精度延迟锁定环
相关领域
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CMOS芯片
校准
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期刊： 作者：Zideng Xie; Xinpeng Xing; Haigang Feng; Georges Gielen 出版日期：2023-05-12 |
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