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 A TDC With Integrated Snapshot Circuit and Calibration in 28nm CMOS 集成快照电路和28 nmCOMS校准的PDC
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期刊：IEEE Transactions on Circuits & Systems II Express Briefs 作者：Tim Lauber; Lantao Wang; Johannes Bastl; Kenny Vohl; Ralf Wunderlich; et al 出版日期：2024-03-01 |
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