| 标题 |
 Determination of Temperature‐ and Carrier‐Dependent Surface Recombination in Silicon 硅中温度和载流子相关表面复合的测定
相关领域
重组
材料科学
硅
曲面（拓扑）
光电子学
载流子寿命
化学
数学
生物化学
基因
几何学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Solar RRL 作者：Anh Huy Tuan Le; Shuai Nie; Eduardo Prieto Ochoa; John Rodriguez; Ruy S. Bonilla; et al 出版日期：2024-09-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
嘉心糖
薰硝壤
Emma
彭于彦祖
hl
随机子
YL
shinysparrow
8R60d8
子车茗
Singularity
梁朝伟
陈军
HEIKU
寻道图强
嗯哼
tianzml0
浅惜
坚强的广山
tuanheqi
皖公网安备34019202002308
