标题 |
Atomic-resolution transmission electron microscopy of electron beam–sensitive crystalline materials
电子束敏感晶体材料的原子分辨透射电子显微镜
相关领域
透射电子显微镜
高分辨率透射电子显微镜
分辨率(逻辑)
电子显微镜
电子晶体学
材料科学
电子
阴极射线
电子断层摄影术
结晶学
能量过滤透射电子显微镜
低温电子显微
纳米技术
配体(生物化学)
金属
扫描透射电子显微镜
化学物理
化学
电子衍射
光学
物理
衍射
计算机科学
人工智能
量子力学
受体
冶金
生物化学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Science 作者:Daliang Zhang; Yihan Zhu; Lingmei Liu; Ying Xiao; Chia-En Hsiung; et al 出版日期:2018-02-09 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|