| 标题 |
 Highest resolution chemical imaging based on secondary ion mass spectrometry performed on the helium ion microscope 氦离子显微镜上二次离子质谱的最高分辨率化学成像
相关领域
二次离子质谱法
离子
次级电子
纳米技术
分辨率（逻辑）
质谱法
背景（考古学）
表征（材料科学）
物理
化学成像
分析化学（期刊）
图像分辨率
材料科学
化学
电子
光学
核物理学
计算机科学
高光谱成像
人工智能
古生物学
生物
量子力学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Reports on Progress in Physics 作者：Jean‐Nicolas Audinot; Patrick Philipp; Olivier De Castro; Antje Biesemeier; Hung Quang Hoang; et al 出版日期：2021-09-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
nozero
昏睡的蟠桃
bc
zho
cdercder
从容芮
SYLH
HEIKU
科研小民工
压缩机
小杨同学
Agernon
shinysparrow
yanzu
22222
今天只做一件事
Leon
史小菜
小透明
爱静静
皖公网安备34019202002308
