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WaferSegClassNet - A light-weight network for classification and segmentation of semiconductor wafer defects
WaferSegClassNet -用于半导体芯片缺陷分类和分割的轻量级网络
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期刊:Computers in Industry 作者:Subhrajit Nag; Dhruv Makwana; Sai Chandra Teja R; Sparsh Mittal; C. Krishna Mohan 出版日期:2022-11-01 |
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