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 Unintended Carbon-Related Impurity and Negative Bias Instability in High-Mobility Oxide TFTs 高迁移率氧化物薄膜晶体管中的非预期碳相关杂质和负偏压不稳定性
相关领域
杂质
无定形固体
材料科学
电子迁移率
分析化学（期刊）
光电子学
化学
结晶学
有机化学
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Yu‐Shien Shiah; Kihyung Sim; Shigenori Ueda; Junghwan Kim; Hideo Hosono 出版日期：2021-09-01 |
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