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 Analysis on the electronic trap of β-Ga2O3 single crystal β-Ga2O3单晶的电子陷阱分析
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期刊：Journal of materials science 作者：Huiyuan Cui; Qinglin Sai; Qi Hu; Jing‐Tai Zhao; Jiliang Si; et al 出版日期：2019-06-20 |
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