标题 |
Investigation of Dislocations in 6H-SiC Axial Samples Using Synchrotron X-Ray Topography and Ray Tracing Simulation
用同步X射线形貌和射线追踪模拟研究6H-SiC轴向样品中的位错
相关领域
材料科学
Burgers向量
同步加速器
位错
半导体
表征(材料科学)
光电子学
激光器
光学
凝聚态物理
纳米技术
物理
复合材料
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DOI | |
其它 |
期刊:ECS Transactions 作者:Hongyu Peng; Yafei Liu; Tuerxun Ailihumaer; Balaji Raghothamachar; Michael Dudley; et al 出版日期:2021-10-01 |
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