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 Piezoresistance Coefficients of (100) Silicon nMOSFETs Measured at Low and High ($\sim$1.5 GPa) Channel Stress 在低和高（$\sim$1.5 GPa）沟道应力下测量的（100）硅NMOSFET的压阻系数
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：S. Suthram; John C. Ziegert; Toshikazu Nishida; Scott E. Thompson 出版日期：2007-01-01 |
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