| 标题 |
 Synergistic Effects of Ionizing Dose and Displacement Damage on SiGe Heterojunction Bipolar Transistors 混合粒子和γ射线照射下的PN双极晶体管电离/位移协同效应的模拟
相关领域
电离辐射
材料科学
辐照
伽马射线
中子
辐射
辐射损伤
吸收剂量
流离失所（心理学）
重组
放射化学
光电子学
化学
光学
核物理学
物理
心理治疗师
基因
生物化学
心理学
|
| 网址 | |
| DOI |
提醒：求助人提供的doi与AI识别不一致
10.1155/2022/1283926
Doi
|
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Pei Li; Chaohui He; Hongxia Guo; Yonghong Li; Jianan Wei 出版日期：2022-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
薰硝壤
Singularity
Leonardi
可靠的书桃
paparazzi221
一一
完美的天空
pcr163
HEIKU
ONESTUD
寻道图强
pluto
咖啡豆
彳亍1117
陈军
yufanhui
tuanheqi
8R60d8
iNk
皖公网安备34019202002308
