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 Detection system of multilayer coating microstructure defects based on differential interference contrast confocal microscopy 基于微分干涉衬度共聚焦显微镜的多层涂层组织缺陷检测系统
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期刊：Chinese Optics 作者：戴 岑 DAI Cen; 巩 岩 GONG Yan; 张 昊 ZHANG Hao; 李佃蒙 LI Dian-meng; 薛金来 XUE Jin-lai 出版日期：2018-01-01 |
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