标题 |
[求助补充材料] Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization
多尺度综合表征揭示分级掺杂诱导微观结构对p型Si-Ge合金热电性能的影响
相关领域
材料科学
掺杂剂
表征(材料科学)
微观结构
比例(比率)
热电效应
热电材料
纳米技术
兴奋剂
冶金
工程物理
光电子学
复合材料
热导率
热力学
物理
量子力学
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Advanced Functional Materials 作者:Kyuseon Jang; Won‐Seok Ko; Ji‐Hee Son; Jeongin Jang; Bongseo Kim; et al 出版日期:2024-04-25 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|