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 Detecting Hot Electron-Induced Local Damage Using THz Near-Field Optical Microscopy 用太赫兹近场光学显微镜检测热电子诱导的局部损伤
相关领域
太赫兹辐射
显微镜
材料科学
电子显微镜
光学显微镜
光学
光电子学
电子
热电子
领域（数学）
扫描电子显微镜
物理
核物理学
数学
纯数学
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| 其它 |
期刊：ACS Photonics 作者：Weijie Deng; Yinan Wang; Xiaoyan Zhu; Rui Xin; Tianxin Li; et al 出版日期：2025-03-21 |
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