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 Residual stress evaluation at the micrometer scale: Analysis of thin coatings by FIB milling and digital image correlation 微米级残余应力评估：通过FIB铣削和数字图像相关分析薄涂层
相关领域
材料科学
残余应力
数字图像相关
涂层
复合材料
聚焦离子束
光学
离子
物理
量子力学
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| DOI | |
| 其它 |
期刊：Surface and Coatings Technology 作者：Alexander M. Korsunsky; Marco Sebastiani; Edoardo Bemporad 出版日期：2010-09-28 |
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