标题 |
Poly-Si thickness and temperature dependent oxide disruption induced by penetration of the interfacial oxide in (p) poly-Si/SiOx passivating contacts
(p)Poly-Si/SiOx钝化触点中界面氧化物穿透引起的Poly-Si厚度和温度相关的氧化物破裂
相关领域
钝化
掺杂剂
材料科学
氧化物
硅
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多晶硅
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化学工程
复合材料
图层(电子)
兴奋剂
纳米技术
化学
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有机化学
薄膜晶体管
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其它 |
期刊:Solar Energy Materials and Solar Cells 作者:Jonathan Linke; Raphael Glatthaar; Frank Huster; Tobias Okker; S. Möller; et al 出版日期:2022-10-01 |
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