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 (Invited) Hydrogen-Related Trap States Induced during Fabrication Process and Annealing Effects in Amorphous in-Ga-Zn-O Thin Film Transistors 非晶in-Ga-Zn-O薄膜晶体管制造过程中诱导的（邀请）氢相关陷阱态及退火效应
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
钝化
无定形固体
氢
光电子学
制作
退火（玻璃）
压力（语言学）
图层（电子）
纳米技术
复合材料
结晶学
化学
病理
有机化学
哲学
替代医学
医学
语言学
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期刊：Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者：Mototaka Ochi; Aya Hino; Hiroshi Goto; Kazushi Hayashi; Toshihiro Kugimiya 出版日期：2018-07-23 |
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