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 Calculating the trap density of states in organic field-effect transistors from experiment: A comparison of different methods 用实验方法计算有机场效应晶体管的陷阱态密度：不同方法的比较
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期刊：Physical Review B 作者：Wolfgang L. Kalb; B. Batlogg 出版日期：2010-01-19 |
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