标题 |
Fast and accurate automatic wafer defect detection and classification using machine learning based SEM image analysis
基于机器学习的SEM图像分析快速准确的晶圆缺陷自动检测和分类
相关领域
薄脆饼
计算机科学
人工智能
上下文图像分类
计算机视觉
机器视觉
模式识别(心理学)
图像(数学)
机器学习
材料科学
光电子学
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期刊: 作者:Sanghyun Choi; Qian Xie; Nathan G. Greeneltch; Hyung Joo Lee; Mohan Govindaraj; et al 出版日期:2024-04-10 |
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