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 StatSTEM: An efficient approach for accurate and precise model-based quantification of atomic resolution electron microscopy images StatSTEM：原子分辨率电子显微镜图像精确和精确模型量化的有效方法
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Annick De Backer; Karel H. W. van den Bos; Wouter Van den Broek; Jan Sijbers; Sandra Van Aert 出版日期：2016-09-09 |
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