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 SiC IGBT degradation mechanism investigation under HV-H3TRB tests HV-H3TRB试验下SiC IGBT降解机理研究
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期刊：Journal of Power Electronics 作者：Ziming Wu; Zongbei Dai; Jian Zhou; Huafeng Dong; Wencan Wang; et al 出版日期：2023-12-15 |
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