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 An Advanced Characterization Method for the Elastic Modulus of Nanoscale Thin-Films Using a High-Frequency Micromechanical Resonator 用高频微机械谐振器表征纳米薄膜弹性模量的新方法
相关领域
材料科学
谐振器
复合材料
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| 其它 |
期刊：Materials 作者：Yun Young Kim 出版日期：2017-07-15 |
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