| 标题 |
 Failure Mechanisms Driven Reliability Models for Power Electronics: A Review 电力电子失效机制驱动可靠性模型综述
相关领域
电迁移
可靠性（半导体）
小型化
失效物理学
数码产品
电力电子
材料科学
可靠性工程
介电强度
失效机理
机械工程
工程物理
法律工程学
功率（物理）
计算机科学
电气工程
工程类
电介质
纳米技术
复合材料
电压
物理
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Electronic Packaging 作者：Okafor Ekene Gabriel; David Huitink 出版日期：2022-09-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
灵巧高山
木心儿
SYLH
浦肯野
Agernon
Zn
36456657
VDC
科研小民工
iNk
紫色水晶之恋
shinysparrow
JZX
黑囡
sutharsons
pcr163
SCINEXUS
kk
刘荻萩
皖公网安备34019202002308
