Residual stress depth profiling in complex hard coating systems by X-ray diffraction

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标题	Residual stress depth profiling in complex hard coating systems by X-ray diffraction 复杂硬质涂层体系残余应力深度的X射线衍射分析相关领域残余应力涂层衍射材料科学硬质合金复合材料化学气相沉积基质（水族馆） X射线晶体学残余物压力（语言学）碳化物光学地质学纳米技术计算机科学海洋学物理语言学哲学算法
网址	https://doi.org/10.1016/j.tsf.2008.05.018
DOI	10.1016/j.tsf.2008.05.018 doi
其它	期刊：Thin Solid Films 作者：M. Klaus; Ch. Genzel; H. Holzschuh 出版日期：2008-06-04
求助人	王博雅在 2024-10-31 16:44:06 发布自福建，悬赏 10 积分
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