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Intrafield process control for 45 nm CMOS logic patterning
45 nm CMOS逻辑图案化的场内工艺控制
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Bertrand Le Gratiet; Jean Massin; Alain Ostrovski; C. Monget; Marianne Decaux; et al 出版日期:2009-03-13 |
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