| 标题 |
[高分]
 书籍 Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic forces 开尔文探针力显微镜：静电力的测量和补偿
相关领域
开尔文探针力显微镜
显微镜
导电原子力显微镜
半导体
工作职能
光导原子力显微镜
非接触原子力显微镜
伏打电位
扫描探针显微镜
材料科学
表征（材料科学）
纳米技术
反褶积
分辨率（逻辑）
原子力声学显微镜
静电力显微镜
原子力显微镜
化学
光电子学
扫描电容显微镜
光学
物理
磁力显微镜
扫描共焦电子显微镜
量子力学
磁化
图层（电子）
计算机科学
人工智能
磁场
|
| 网址 | |
| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
|
| 其它 |
期刊：Springer eBooks 作者：Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel 出版日期：2012-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
JY
寻道图强
lin
Cloud
穆紫
美好乐松
凤凰
hzc
黑白
脑洞疼
结实的寄柔
可爱的函函
科目三
Owen
星辰大海
只谈风月
霉小欧
温暖的盼山
账户已注销
eternity136
皖公网安备34019202002308
