| 标题 |
 XPS characterization and optical properties of Si/SiO2, Si/Al2O3 and Si/MgO co-sputtered films Si/SiO2、Si/Al2O3和Si/MgO共溅射薄膜的XPS表征及光学性质
相关领域
X射线光电子能谱
价
材料科学
光致发光
分析化学（期刊）
硅
溅射
薄膜
化学工程
化学
纳米技术
冶金
光电子学
工程类
哲学
色谱法
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Thin Solid Films 作者：Naoto Koshizaki; Hiroyuki Umehara; Toshie Oyama 出版日期：1998-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
彭于彦祖
oceanao
吃不饱星球球长
爱静静
tianzml0
iNk
Henry
HEIKU
iWatchTheMoon
几酌
寻道图强
子车茗
shinysparrow
互助遵法尚德
hujin
Jun
嗯哼
夏远航
苏卿
哎嘿
皖公网安备34019202002308
