标题 |
Extreme Ultraviolet Lithographic Performance and Reaction Mechanism of Polymeric Resist─Utilizing Radical- and Acid-Amplified Cross-Linking
高分子抗蚀剂的极紫外光刻性能及反应机理──自由基和酸放大交联法
相关领域
抵抗
平版印刷术
极紫外光刻
机制(生物学)
材料科学
光化学
紫外线
反应机理
极端紫外线
化学
高分子化学
纳米技术
光电子学
光学
有机化学
物理
催化作用
激光器
图层(电子)
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Chemistry of Materials 作者:Bilal Abbas Naqvi; Satoshi Enomoto; Kohei Machida; Yui Takata; Takahiro Kozawa; et al 出版日期:2024-02-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|