标题 |
使用氮化铝镓背势垒提高常关型 InAlN/AlN/GaN HEMT 的性能
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
氮化铝
氮化镓
光电子学
碳化硅
铝
晶体管
宽禁带半导体
氮化物
电压
电气工程
纳米技术
复合材料
图层(电子)
工程类
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|