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![]() 准确预测超薄氧化物可靠性的介电击穿Weibull分布参数置信限的确定
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:F. Monsieur; Emmanuel Vincent; D. Roy; S. Bruyère; G. Pananakakis; et al 出版日期:2001-09-01 |
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