标题 |
A High-Speed and High-Reliability TRNG Based on Analog RRAM for IoT Security Application
面向物联网安全应用的基于模拟RRAM的高速高可靠性TRNG
相关领域
NIST公司
计算机科学
随机数生成
吞吐量
电阻随机存取存储器
可靠性(半导体)
块(置换群论)
电子工程
计算机硬件
电气工程
电压
算法
无线
工程类
电信
数学
物理
功率(物理)
几何学
量子力学
自然语言处理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Bohan Lin; Bin Gao; Yachuan Pang; Peng Yao; Dong Wu; et al 出版日期:2019-12-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|