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 Classification and evaluation for nearside/backside defect via magnetic flux leakage: A dual probe design with SVM and PSO intelligence algorithms 基于漏磁的近侧/背侧缺陷分类与评估：基于SVM和PSO智能算法的双探针设计
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期刊：NDT & E international 作者：Pengpeng Shi; Pengcheng Zhang; Shuai Hao; Wenshuai Wang; Xiaofan Gou 出版日期：2024-03-24 |
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