标题 |
Far-field high-energy diffraction microscopy: a tool for intergranular orientation and strain analysis
远场高能衍射显微镜:晶间取向和应变分析的工具
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期刊:The Journal of Strain Analysis for Engineering Design 作者:Joel V. Bernier; Nathan R. Barton; U. Lienert; Matthew P. Miller 出版日期:2011-07-29 |
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