标题 |
Identification of etch‐pit crystallographic faces induced on diamond surface by H2/O2 etching plasma treatment
H2/O2刻蚀等离子体处理金刚石表面刻蚀坑晶面的识别
相关领域
抛光
位错
等离子体刻蚀
蚀刻(微加工)
腐蚀坑密度
材料科学
钻石
基质(水族馆)
等离子体
结晶学
纳米技术
复合材料
矿物学
化学
地质学
图层(电子)
物理
海洋学
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:physica status solidi (a) 作者:Jocelyn Achard; François Silva; Ovidiu Brinza; X. Bonnin; Vianney Mille; et al 出版日期:2009-08-31 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|