标题 |
Simultaneous Measurement of Thickness and Group Refractive Index Based on Differential White Light Interferometry
基于差分白光干涉法同时测量厚度和群折射率
相关领域
折射率
干涉测量
光学
白光干涉法
测量不确定度
材料科学
分析化学(期刊)
物理
数学
化学
统计
色谱法
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其它 |
期刊:IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者:Xu Lu; Xinkai Wang; Yunlong Zhu; Yonggui Yuan; Fanyang Dang; et al 出版日期:2023-01-01 |
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